【案例分享】复杂电子系统数字IO接口仿真与测试用
来源: | 作者:JYTEK | 发布时间: 2026-07-08 | 63 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

应用

随着雷达、电子对抗及通信等复杂电子系统的快速发展,系统集成度和功能复杂度持续提升,大量数字IO接口广泛应用于系统控制、状态监测与安全联锁等关键环节。此类接口数量多、信号角色复杂,既包含控制输出信号,也包含状态与故障反馈信号,对接口电平、驱动能力、默认状态及响应时序均提出了明确要求。

在相关系统的研发验证与定型测试过程中,需要对被测单元在不同工况下的控制逻辑、状态机行为及异常响应能力进行全面验证,传统简单开关量采集方式已难以满足系统级测试对接口仿真一致性、事件响应实时性及运行可靠性的要求。同时,早期测试平台多基于VXI架构搭建,随着设备服役周期延长,逐步暴露出体积功耗大、维护成本高、扩展能力受限等问题,测试系统需要在保持原有测试方法与接口行为一致的前提下,向更高集成度、更强扩展能力的平台演进。

挑战

本案例客户在实际应用中遇到了以下挑战:

  • 接口规模大、信号类型复杂:被测系统涉及大量离散控制与状态接口,输入与输出信号混合存在,对接口方向、电平类型及默认状态均有明确要求,测试系统需具备高密度接口资源及灵活配置能力。

  • 接口行为一致性要求高:在系统升级过程中,需确保新测试平台在接口时序、驱动能力及响应方式等方面与原有VXI系统保持一致,避免因平台差异对测试结论产生影响。

  • 事件响应与系统可靠性要求突出:测试过程中需对系统状态变化、异常触发等事件进行实时捕捉与响应,同时保障系统在长时间运行及异常工况下的稳定性与安全性。

解决方案

整套测试系统采用基于PXI架构的模块化设计方案,引入简仪PXle-5412数字I/O模块搭建高密度数字IO接口仿真与测试平台,通过集中化的数字接口管理,实现对被测系统控制信号与状态信号的统一仿真、采集与监测。

系统依托PXle-3115a嵌入式控制器完成整机调度、实时信号处理、测试流程执行;搭配PXle-2316G2 标准PXIe机箱实现多模块灵活搭载,通道数量可按需增减。配套上位机软件可可视化完成接口方向、电平及默认状态的灵活设置,在保持原有测试流程和逻辑不变的前提下,实现测试平台由传统VXI架构向PXI架构的平滑迁移,精准复刻原有VXI设备时序、驱动特性,不改动成熟测试用例即可完成全系统功能验证,同时预留充足硬件扩展空间,适配后续多型号产品迭代测试。

配套SeeSharpTools锐视测控开发工具包,提供完整驱动、多语言开发范例,支撑客户完成原有测试程序迁移与个性化功能二次开发。项目前期可提供售前 POC 验证,完整复现原有 VXI 平台全部测试工况,提前验证平台适配性。


使用的简仪产品

硬件

  • PXIe-2316G2:高数据传输带宽6槽PCIe Gen2机箱

  • PXIe-3115a:全系列第八代酷睿处理器PXI Express控制器

  • PXIe-5412:96通道多功能数字输入/输出模块

软件

  • SeeSharpTools:锐视测控软件开发工具包


为什么选择简仪

  • 锐视测控平台®锐视测控平台®使用C# 语言开发,提供了一个强大且易于使用的开发环境,帮助客户快速实现项目开发。

  • 成熟的产品:简仪产品经过长期市场验证,具有可靠的性能和稳定性。

  • POC验证服务:简仪提供售前的POC(原理验证)服务,帮助客户验证产品性能和适用性。

  • 成本效益:相比国外品牌,简仪的解决方案不仅性能更优,而且在成本上具有明显优势,降低了客户的整体测试成本。

  • 供货速度:简仪能够快速供货,确保项目按时进行。

  • 技术支持和快速响应能力:简仪提供优质的本地化技术支持,快速响应客户需求,帮助客户解决问题,确保了测试任务的顺利进行。


这套PXI数字IO接口仿真平台可替换老旧VXI测试系统,解决其体积功耗大、维护贵、扩容难的问题。高密度数字I/O模块支持海量离散信号统一管控,通道参数软件可调,电气时序与原VXI设备完全兼容,测试流程无需改动即可平滑迁移。搭配简仪开发工具、POC验证与本地化技术服务,有效缩减客户切换成本;系统模块化易拓展,可适配雷达、电子对抗、通信类设备长期研发定型测试。